所謂高電壓電器設(shè)備的內(nèi)部故障，主要是指封閉在固體絕緣以及設(shè)備殼體內(nèi)部的電氣回路故障和絕緣介質(zhì)劣化引起的各種故障。由于這類故障出現(xiàn)在電氣設(shè)備的內(nèi)部，因此反映的設(shè)備外表的溫升很小，通常只有幾K。檢測(cè)這種故障對(duì)檢測(cè)設(shè)備的靈敏度要求較高。

　　所以在電力行業(yè)，就將FLIR I3熱像儀運(yùn)用于設(shè)備的安全檢修上，通過(guò)其對(duì)電氣設(shè)備和線路的熱缺陷進(jìn)行探測(cè)，如變壓器、套管、斷路器、刀閘、互感器、電力電容器、避雷器、電力電纜、母線、導(dǎo)線、組合電器、絕緣子串、低壓電器以及具有電流、電壓致熱效應(yīng)或其他致熱效應(yīng)的設(shè)備的二次回路等，用FLIR 熱像儀及時(shí)發(fā)現(xiàn)、處理、預(yù)防重大事故的發(fā)生可以起到非常關(guān)鍵而有效的作用。

　　通常故障的有三種：

　　一種是長(zhǎng)期暴露在空氣中的部件，由于溫度濕度的影響，或表面結(jié)垢而引起的接觸不良，或由于外力作用所引起的部件損傷，因而使得的導(dǎo)電截面積減少而產(chǎn)生的發(fā)熱。

　　第二種是由于電器內(nèi)部本身故障，如內(nèi)部連接部件接觸不良導(dǎo)致的電阻過(guò)大;絕緣材料老化、開(kāi)裂、脫落;內(nèi)部元件受潮，元?dú)饧p耗增大;冷卻介質(zhì)管路阻塞等等。

　　因此我們可以根據(jù)不同的特點(diǎn)，作相關(guān)的分析，作出相應(yīng)的判斷如，為保證電力生產(chǎn)安全高效運(yùn)行，采用FLIR I3熱像儀可開(kāi)展以下電力設(shè)備狀態(tài)檢測(cè)與故障診斷工作。